SSD評測:從芯片分析到高低溫測試,8大項目全面剖析(上)
隨著NAND Flash價格在2018年大跌,並2019年持續跌勢,SSD價格下滑大大的刺激了市場需求的成長,然而其性能和品質備受關注。SSD主要由NAND Flash、主控芯片、DRAM組成,除了NAND Flash,主控芯片也是影響其性能和品質的關鍵。
中國閃存市場ChinaFlashMarket針對某款SSD產品進行了一系列的測試,主要包括8大項目測試,包括內部拆解、性能測試、協議測試、穩定性測試、老化測試、高溫數據保存測試、老化後性能測試、功耗測試,從多角度測試SSD的性能和品質。考慮到篇幅過長,評測內容將分為上、下兩部分,上部分主要包括內部拆解、性能測試、協議測試、穩定性測試,下部分則為老化測試、高溫數據保存測試、老化後性能測試、功耗測試。
一、SSD內部拆解
中國閃存市場ChinaFlashMarket會陸續對SSD進行測試,本次測試的是一款SATA 6Gb/s接口,容量240GB,2.5inch規格形態的SSD,對其進行拆解後,如下圖所示:
NAND Flash主要由三星、東芝/西部數據、美光/英特爾、SK海力士等幾大原廠供貨,NAND Flash芯片上一般會印上原廠LOGO,表示通過原廠測試的合格產品。本次測試的SSD由於被RMRMRM…標志所掩蓋,用工具檢測到Flash的ID號為TLC_16K 45 3E 99 B3 7A 72 0B,是閃迪(SanDisk)3D TLC NAND Flash芯片*2顆。。
工具檢測:
科普一下,Flash ID對應關系:Samsung(0xEC),Toshiba(0x98),SanDisk(0x45),Micron(0x2C),Intel(0x89),SK Hynix(0xAD)。
主控廠商除了三星、東芝、西部數據等具有研發能力的原廠,還有Marvell、慧榮、群聯、點序、聯蕓、得一微、矽統、衡宇芯等主控廠。本次測試的SSD采用的是點序科技的AS2258控制芯片,是一款SATA SSD控制芯片,支持2-CH通道,采用內建 SDRAM設計,使得SSD無需內嵌DRAM緩存,從而優化SSD成本,提高市場競爭力。
二、SSD性能測試
測試環境
CDM測試
AS SSD測試
H2 TEST測試
HD TUNE测试
PC MARK8測試
ATTO測試
測試結果匯總
IO METER測試
三、SSD協議測試
1. DOS協議
測試環境
測試項目及測試結果
LeCroy&Ulink
測試環境
測試示意圖
LeCroy Protocol Test
Ulink Protocol Test
Ulink Regression Test
2. SATA-IO協議
測試環境
RX抖動容限測試(RSG)
手動眼圖測試
四、SSD穩定性測試
S3\S4測試
reboot測試
220V整機斷電測試
穩定性測試結果匯總:
SSD評測:從芯片分析到高低溫測試,8大項目全面剖析(上)測試結果小結