SSD评测:从芯片分析到高低温测试,8大项目全面剖析(上)
随着NAND Flash价格在2018年大跌,并2019年持续跌势,SSD价格下滑大大的刺激了市场需求的成长,然而其性能和品质备受关注。SSD主要由NAND Flash、主控芯片、DRAM组成,除了NAND Flash,主控芯片也是影响其性能和品质的关键。
中国闪存市场ChinaFlashMarket针对某款SSD产品进行了一系列的测试,主要包括8大项目测试,包括内部拆解、性能测试、协议测试、稳定性测试、老化测试、高温数据保存测试、老化后性能测试、功耗测试,从多角度测试SSD的性能和品质。考虑到篇幅过长,评测内容将分为上、下两部分,上部分主要包括内部拆解、性能测试、协议测试、稳定性测试,下部分则为老化测试、高温数据保存测试、老化后性能测试、功耗测试。
一、SSD内部拆解
中国闪存市场ChinaFlashMarket会陆续对SSD进行测试,本次测试的是一款SATA 6Gb/s接口,容量240GB,2.5inch规格形态的SSD,对其进行拆解后,如下图所示:
● NAND Flash主要由三星、东芝/西部数据、美光/英特尔、SK海力士等几大原厂供货,NAND Flash芯片上一般会印上原厂LOGO,表示通过原厂测试的合格产品。本次测试的SSD由于被RMRMRM…标志所掩盖,用工具检测到Flash的ID号为TLC_16K 45 3E 99 B3 7A 72 0B,是闪迪(SanDisk)3D TLC NAND Flash芯片*2颗。。
● 工具检测:
科普一下,Flash ID对应关系:Samsung(0xEC),Toshiba(0x98),SanDisk(0x45),Micron(0x2C),Intel(0x89),SK Hynix(0xAD)。
● 主控厂商除了三星、东芝、西部数据等具有研发能力的原厂,还有Marvell、慧荣、群联、点序、联芸、得一微、矽统、衡宇芯等主控厂。本次测试的SSD采用的是点序科技的AS2258控制芯片,是一款SATA SSD控制芯片,支持2-CH通道,采用内建 SDRAM设计,使得SSD无需内嵌DRAM缓存,从而优化SSD成本,提高市场竞争力。
二、SSD性能测试
测试环境
● CDM测试
● AS SSD测试
● H2 TEST测试
● HD TUNE测试
● PC MARK8测试
● ATTO测试
测试结果汇总
IO METER測試
三、SSD协议测试
1. DOS协议
测试环境
测试项目及测试结果
LeCroy&Ulink
测试环境
测试示意图
●LeCroy Protocol Test
●Ulink Protocol Test
●Ulink Regression Test
2. SATA-IO协议
测试环境
● RX抖动容限测试(RSG)
● 手动眼图测试
四、SSD稳定性测试
● S3\S4测试
● reboot测试
● 220V整机断电测试
稳定性测试结果汇总:
SSD评测:从芯片分析到高低温测试,8大项目全面剖析(上)测试结果小结